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承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-通用要求（三）

2016-02-15 10:18:51 來(lái)源：

承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-通用要求（三）
5 各無(wú)損檢測(cè)方法的使用原則
1) 通用原則
    a) 每一種無(wú)損檢測(cè)方法均有其能力范圍和局限性，且應(yīng)保證足夠的實(shí)施操作空間。本部分所涉及到的各無(wú)損檢測(cè)方法的能力范圍和局限性見(jiàn)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-通用要求（四），通常能檢測(cè)的一般缺陷見(jiàn)附錄A（資料性附錄）。
    b)僅能檢測(cè)表面開(kāi)口缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括滲透檢測(cè)和目視檢測(cè)。滲透檢測(cè)主要用于非多孔性材料；目視檢測(cè)主要用于宏觀可見(jiàn)缺陷的檢測(cè)。
    c)能檢測(cè)表面開(kāi)口缺陷和近表面缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括磁粉檢測(cè)和渦流檢測(cè)。磁粉檢測(cè)主要用于鐵磁性材料；渦流檢測(cè)主要用于導(dǎo)電金屬材料。
    d)可檢測(cè)材料中任何位置缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)和x射線數(shù)字成像檢測(cè)。一般而言，超聲檢測(cè)≮衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)對(duì)于表面開(kāi)口缺陷或近表面缺陷的檢測(cè)能力低于磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)或渦流襝測(cè)。
    e)為確定承壓設(shè)備內(nèi)部或表面存在的活性缺陷的強(qiáng)度和大致位置，可采用聲發(fā)射檢測(cè)。聲發(fā)射檢測(cè)需要對(duì)承壓設(shè)備進(jìn)行加壓試驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)活性缺陷時(shí)應(yīng)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。
    f)僅能檢測(cè)承壓設(shè)備貫穿性缺陷或整體致密性的無(wú)損檢測(cè)方法為泄漏檢測(cè)。
    g)對(duì)于鐵磁性材料，為檢測(cè)表面或近表面缺陷，應(yīng)優(yōu)先采用磁粉檢測(cè)方法，確因結(jié)構(gòu)形狀等原因不能采用磁粉檢測(cè)時(shí)方可采用其他無(wú)損檢測(cè)方法。
    h)當(dāng)采用一種無(wú)損檢測(cè)方法按不同檢測(cè)工藝進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，如果檢測(cè)結(jié)果不一致，應(yīng)以危險(xiǎn)度大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn)。
     i) 當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)承壓設(shè)備的同一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別。

待續(xù)……

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