 |
-
日立HITACHI手持式X射線熒光分析儀X-MET8000
詳細(xì)信息品牌：日立HITACHI 型號(hào)：X-MET8000 加工定制：否 光源：X射線 波長(zhǎng)范圍：1610 nm 焦距：400 mm 外形尺寸：300 mm 重量：1500 g 適用范圍：土壤 金屬元素分析儀 
日立HITACHI手持式X射線熒光分析儀X-MET8000
簡(jiǎn)介
數(shù)秒內(nèi)得到實(shí)驗(yàn)室質(zhì)檢結(jié)果，可提供快速無(wú)損的分析以及準(zhǔn)確的牌號(hào)識(shí)別，實(shí)現(xiàn)理想的質(zhì)檢和質(zhì)保。該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測(cè)器 (SDD) 結(jié)合在一起，能夠?yàn)榭蛻籼峁└鞣N質(zhì)量檢驗(yàn)應(yīng)用。
應(yīng)用廣泛
廢舊金屬分揀，材料可靠性鑒定，無(wú)損金屬檢測(cè)，礦物勘探，符合性檢測(cè)，土壤分析等。 測(cè)量原理：X射線是指波長(zhǎng)為0.001-50nm的電磁輻射，由于X射線的能量較高，原子的內(nèi)層電子吸收X射線的能量后會(huì)激發(fā)成為自由電子。然后，外層的電子會(huì)填補(bǔ)內(nèi)層電子的空位，這就是電子遷躍，電子躍遷的同時(shí)會(huì)放射X射線熒光。電子躍遷的能量等于兩電子能級(jí)之間的能量差，因此，X射線熒光的能量或波長(zhǎng)是具有特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)，就可以知道元素的種類(lèi)。此外，熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此可以進(jìn)行元素的定量分析。
-
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://www.viptaxi.cn
-
產(chǎn)品分類(lèi)
-
工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-
