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美國GE超聲波探頭IA-50.3
詳細(xì)信息品牌：GE 型號(hào)：IA-..50.3 加工定制：否 用途：高分辨率探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國 美國GE超聲波探頭
美國GE超聲波探頭 主要特性： •單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收 •通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試） •完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外） •牢固的金屬盒 •用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力 •使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測(cè)，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開：例如半導(dǎo)體基體、電氣插頭和表面保護(hù)層中的材料分離、氣孔和雜質(zhì)等。同樣地，它還可以應(yīng)用于擴(kuò)散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測(cè)試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預(yù)制成型零部件的測(cè)試。
壓電高聚物高頻直探頭 特性：非常高的分辨率，聚焦聲束寬度非常小 IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.2IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.3
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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