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美國GE歐式探頭K1G
詳細信息| 詢價留言品牌：GE 型號：K1G 加工定制：否 用途：超聲波探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE歐式探頭K1G
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
通常：對所有類型零件內部或近表面分布缺陷的探測和評估。 可以用于有保護膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測。帶硬質陶瓷接觸表面的直探頭 主要特性：
·單晶探頭，實現超聲波的發射和接收
·縱波垂直傳輸
·光滑表面上具有很高增益和非常好的分辨率
·陶瓷接觸面探頭抗磨損性能好
·特殊的平指尖式探頭
·帶可更換延遲線的探頭具有極好的近場分辨率
通常：對所有類型零件內部或近表面分布缺陷的探測和評估。
可以用于有保護膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測。K1G
K2G
K4G24
24
241
2
415-2300
10-4000
7-800023
45
887
3.5
1.81-24
2-24
4-24K1N
K2N
K4N
K5N
K6N10
10
10
10
101
2
4
5
615-420
7-2500
5-5000
4-6300
3-76004
8
16
20
238
3.5
1.8
1.5
1.21-10
2-10
4-10
5-10
6-10K2K
K5K
K10K
K15K5
5
5
52
5
10
157-300
5-2100
2-3000
2-38002.0
5.0
10
152.5
1.5
1
0.72-5
5-5
10-5
15-5 -
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