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TB7541-X超聲波試塊美國泛美
詳細信息| 詢價留言品牌：美國泛美 型號：TB7541-X 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：53*29*45 mm 重量：1 kg 分辨率：20*22 TB7541-X超聲波試塊美國泛美 美國泛美超聲波試塊TB7541-X
超聲波試塊的作用
1、超聲波試塊的作用是校驗儀器和探頭的性能，確定探傷起始靈敏度，校準掃描線性。
2、超聲波探傷儀同步信號發生器的作用
3、同步電路產生同步脈沖信號，用以觸發儀器各部分電路同時協調工作，它主要控制同步發射和同步掃描二部分電路。
上述的內容就是超聲波探頭及試塊的主要用途，超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進入另一截面時，在界面邊緣發生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法。
校準試塊具體型號規格:
所有試塊的尺寸都使用源于美國國家標準及技術研究所（NIST）的測量儀器進行核查。*經常求購的校準試塊列于下表中。
將工件編號中的“X”替換為以下所列試塊材料對應的適當的編號：類型 工件編號 說明 硬木箱 ASTM E164校準
IIW型試塊TB7541-X 符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準距離和靈敏度設置。
測量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點。美國常用單位（英寸）。F129 TB1136-X 符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準距離和靈敏度設置。
測量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點。美國常用單位（英寸）。
帶有有機玻璃塞。F129 TB1054-X 公制單位。 F129 TB1137-X 公制單位。帶有有機玻璃塞。 F129 美國空軍IIW-2型
校準試塊TB5939-X 美國空軍NDI手冊T.O.33B -1-1中規定的IIW型試塊。
這些試塊包含用于距離校準的半徑為2英寸和4英寸的開口，
帶有3號、5號和8號橫通孔，以及2英寸處的距離校準標記。F129 RC AWS試塊 TB7543-X 根據AWS和AASHTO的要求，確定角度聲束探頭的分辨率能力。 F157 SC AWS試塊 TB7545-X 根據AWS和AASHTO的要求，進行靈敏度和折射角度的校準。 F158 DC AWS試塊 TB7547-X 根據AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離和聲束步進的校準。 F159 DSC AWS試塊 TB7549-X 根據AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離、靈敏度、
折射角度及聲束步進的校準。F160 DS AWS試塊 TB7551-X 根據AWS和AASHTO的要求，用于校準橫向線性和dB精確度的試塊。 F161 30FBH分辨率
參考試塊TB7160-X 評價UT設備的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的靈敏度。
在0.050英寸到1.250英寸之間的10個金屬行程距離處
有3號、5號和8號ASTM平底孔。包含 NAVSHIPS試塊 TB7567-X 帶有6個3號橫通孔。用于根據NAVSHIPS 0900-006 -3010標準
進行距離波幅校準。F162 ASTM E164 MAB
試塊TB7150-X 袖珍角度聲束（ROMPAS）試塊。用于距離、聲束步進、
折射角度及靈敏度的校準。厚度為1英寸。F197 ISO 7963
鋼制TB1065-X 袖珍角度聲束試塊。用于距離、聲束步進、折射角度和靈敏度的校準。
厚度為25毫米。F197
1 = 1018鋼
2 = 4340鋼
4 = 7075-T6鋁
5 = 304不銹鋼
8 = 6-4鈦
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