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指尖式探頭B4F美國GE
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：B4F 加工定制：否 是否進口：是 型號：B4F 加工定制：否 B4F指尖式探頭美國GE
美國GE指尖式探頭 指尖探頭B..F和MB..F：可以與探頭K..G和K..N相比較，但是由于扁平設計，它們非常適合于那些不容易接近的位置的測試。經(jīng)常被稱作"搜索探頭"。
特性：非常好的穿透性 / 高的抗磨損性 / 扁平設計
注釋： 粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
O=提供探頭數(shù)據(jù)表
O=提供DGS標尺
關于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
*) 用于無衰減材料時規(guī)定的工作范圍上限。實際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。類型
[訂購號碼]D [mm] [mm] f [MHz] AB* N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號備注 草圖 特性帶寬：70% B1F
B2F
B4F
B5F20
20
20
201
2
4
520-1300
10-4000
6-7500
6-1000016
31
62
768
1
3
2.51-20
2-20
4-20
5-20類型8 特性帶寬：60% MB2F
MB4F
MB5F
MB10F10
10
10
102
4
5
613-2500
6-5000
5-6200
3-120008
16
19
364
3
2.5
22-10
4-10
5-10
10-10與MB2S相同
與MB4S相同類型9
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設計的探頭。附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米 DGS標尺
耦合劑MPK2L
ZG-F用于B..F和MB..F
見35頁
見36頁
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標準探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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