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美國GE硬質面直探頭G2KB
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：G2KB 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE硬質面直探頭G2KB
美國GE硬質面直探頭 特性：G..N，G..K，G..KB和G..MN：是具有相當高的衰減和寬帶沖擊波的探頭，可以產生非常短的聲波脈沖。它們可以很好地區(qū)分簡單的單個缺陷和缺陷區(qū)域，而且在非均勻材料（鑄造組織、合成材料）中具有很好的穿透能力。
特性：可生成非常短的聲波脈沖的沖擊波探頭
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短 注釋說明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標尺
關于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
*) 用于無衰減材料時規(guī)定的工作范圍上限。實際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。類型
[訂購號碼]D [mm] [mm] f [MHz] AB** N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號備注 草圖 抗磨損陶瓷保護貼面；特性帶寬：100% G1N
G2N
G3NG1N
G2N
G3N2
4
512-2300
10-2500
7-500023
45
885
2.5
1.21-24
2-24
4-24類型11 抗磨損陶瓷保護貼面；特性帶寬：100% G2KB
G5KB
G5K
G10K10
10
5
52
5
5
107-1300
3-3400
2-130
1.2-2008
20
5
102.5
1.0
1.5
0.82-10
5-10
5-5
10-5類型12
類型13可互換的50MHz塑料或石英延遲線；特性帶寬：100% G5MN
G10MN
G15MN
ND23
ND505
5
5
5
35
10
15
23
502-20
1-30
0.6-40
0.4-30
0.2-105
10
15
23
171.5
0.2
0.5
0.4
0.25-5 ★
10-5 ★
15-5 ★
固定延遲，
帶寬50%類型14
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設計的探頭。附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米
延遲線（可互換）
耦合劑MPKL2
MPKM2
MPKL2
MPKM2
ZG-F用于G..N和G..KB
用于G..K, G..MN和
ND 23, ND50
9.5mm用于G..MN
12.5mm用于G..MN
也提供其它長度
見36頁
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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