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美國(guó)GE探傷儀直探頭B0.5SL
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：B0.SL 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE探傷儀直探頭B0.5SL
美國(guó)GE探傷儀直探頭 主要應(yīng)用領(lǐng)域 通常：用于容積形或者平行于表面的缺陷的探測(cè)和評(píng)估。可互換的抗磨損的保護(hù)膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面 也達(dá)到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。
特性：在粗糙表面上具有穩(wěn)定的耦合性
注釋?zhuān)?/span>
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋?zhuān)?jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。帶可更換保護(hù)膜的直探頭 主要特性：
·單晶探頭實(shí)現(xiàn)聲波的發(fā)射和接收
·縱波垂直傳輸
·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上，由于柔性的抗磨損保護(hù)膜而具有穩(wěn)定的耦合特性
·如果及時(shí)地更換保護(hù)膜，則探頭的磨損可以達(dá)到*小
·特殊的粗晶探頭，在測(cè)試高衰減材料時(shí)，利用短脈沖可以達(dá)到高信噪比
·由于采用印模壓鑄成型，因此實(shí)際形狀具有很高的穩(wěn)定性
通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探測(cè)和評(píng)估。可更換的抗磨損的保護(hù)膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達(dá)到*好耦合，并防止探頭磨損。類(lèi)型[訂購(gòu)號(hào)碼] D [mm] f [MHz] AB [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀編號(hào) B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
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- 鈍化膜測(cè)試儀
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- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
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- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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